一種加樣針機構(gòu)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020789119.2 申請日 -
公開（公告）號 CN213210182U 公開（公告）日 2021-05-14
申請公布號 CN213210182U 申請公布日 2021-05-14
分類號 G01N35/10 分類 測量；測試;
發(fā)明人 杜康;劉新全 申請（專利權(quán)）人 天津博碩科技有限公司
代理機構(gòu) 天津企興智財知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王艷華
地址 300300 天津市北辰區(qū)天津北辰經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)醫(yī)藥醫(yī)療器械工業(yè)園京福公路東側(cè)優(yōu)谷新科園53-1第二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明創(chuàng)造提供了一種加樣針機構(gòu)，包括第一安裝板和安裝在第一安裝板上的傳送組件、滑動組件、采樣組件、抽氣組件，所述采樣組件安裝在所述傳送組件上，所述滑動組件與所述傳送組件滑動連接，所述抽氣組件通過管路與所述采樣組件連通；所述滑動組件包括一級導軌、二級導軌，所述一級導軌上滑動連接有與其對應的一級滑塊，所述二級導軌固定于所述一級滑塊上，所述二級導軌上滑動連接有與其對應的二級滑塊，所述采樣組件與所述一級滑塊的同側(cè)之間鉸接有第一彈性件，所述一級擋塊上安裝有觸底檢測光耦。本發(fā)明創(chuàng)造所述的一種加樣針機構(gòu)可完成觸底檢測，避免加樣針撞擊器皿底部造成不要的損失，同時可以檢測替補頭是否到位。