晶體振蕩器綜合測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200920059663.5 申請日 -
公開（公告）號 CN201429673Y 公開（公告）日 2010-03-24
申請公布號 CN201429673Y 申請公布日 2010-03-24
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉碧波;孫心華;李健;孫利軍;李曉云;劉桂華 申請（專利權(quán)）人 廣州市天馬電訊科技有限公司
代理機構(gòu) 江門嘉權(quán)專利商標事務(wù)所有限公司 代理人 廣州市天馬電訊科技有限公司
地址 510630廣東省廣州市中山大道西139號126棟2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種晶體振蕩器綜合測試設(shè)備。包括機箱，所述機箱內(nèi)安裝有主控MCU模塊和有源晶振接口模塊，所述主控MCU模塊與有源晶振接口模塊之間連接有多個檢測單元，所述主控MCU模塊還連接有操控單元和數(shù)據(jù)顯示單元。本實用新型將晶體振蕩器各類檢測裝置集成為一體，使之模塊化，減少了繁瑣的連線；由微處理器控制各檢測單元對晶體振蕩器進行檢測，省去了繁瑣的人工操作，可自動完成多個項目的檢測，也可以對其中某個單項進行檢測，并由主控MCU模塊進行數(shù)據(jù)分析，通過LED屏將檢測結(jié)果顯示出來，可方便的判斷產(chǎn)品是否合格，極大的提高工作效率和測量數(shù)據(jù)的準確性，減少了檢測時的人為干擾。