一種基于GaAs襯底制備InP薄膜的方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202111325697.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114134565A | 公開(公告)日 | 2022-03-04 |
| 申請公布號 | CN114134565A | 申請公布日 | 2022-03-04 |
| 分類號 | C30B25/18(2006.01)I;C30B29/40(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
| 發(fā)明人 | 徐鵬飛;王巖;羅帥;季海銘 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇華興激光科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 武漢江楚智匯知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 鄧寅杰 |
| 地址 | 221300江蘇省徐州市邳州市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)遼河西路北側(cè)、華山北路西側(cè) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于GaAs襯底制備InP薄膜的方法,包括以下步驟:(1)選擇一GaAs襯底;(2)在GaAs襯底上生長GaAs緩沖層;(3)在GaAs緩沖層上制備復合緩沖層,復合緩沖層由石墨烯層和GaxIn1?xP材料層交替生長形成,最下層為石墨烯層,最上層為GaxIn1?xP材料層;(4)在復合緩沖層上生長InP薄膜。本發(fā)明基于單晶GaAs襯底,采用石墨烯和帶有均勻分布納米柱結(jié)構(gòu)的GaxIn1?xP材料相結(jié)合的復合緩沖層制備InP薄膜,可消除在GaAs襯底上外延生長InP材料層時產(chǎn)生的失配應(yīng)力,降低材料層缺陷密度,改善InP薄膜的晶體質(zhì)量。本發(fā)明可以基于技術(shù)成熟、成本較低的GaAs襯底來制備InP材料,最終實現(xiàn)在GaAs襯底上制備InP光電子器件。 |





