一種測(cè)試探筆針下點(diǎn)校正方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210121618.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN102621482B 公開（公告）日 2014-08-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN102621482B 申請(qǐng)公布日 2014-08-20
分類號(hào) G01R31/28(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 白榮光;生擁宏;周東方;白棟;林競(jìng)羽 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 河南正泰信創(chuàng)新基地有限公司
代理機(jī)構(gòu) 鄭州聯(lián)科專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉建芳
地址 450001 河南省鄭州市高新開發(fā)區(qū)國槐街8號(hào)火炬大廈19層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種利用攝像頭對(duì)測(cè)試探筆的針下點(diǎn)校正和準(zhǔn)確定位的方法，經(jīng)過針下點(diǎn)校正后，以后只要在計(jì)算機(jī)屏幕上觀看十字光標(biāo)對(duì)準(zhǔn)被測(cè)目標(biāo)點(diǎn)，而不必落下測(cè)試探筆使探針接觸電路板，即可判斷測(cè)試探筆達(dá)到被測(cè)目標(biāo)點(diǎn)，從而能夠使測(cè)試探筆精確地落到被測(cè)目標(biāo)點(diǎn)。