納米線器件及其形成方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201711275119.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN109888014B | 公開(公告)日 | 2022-03-22 |
| 申請公布號 | CN109888014B | 申請公布日 | 2022-03-22 |
| 分類號 | H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I;B82Y40/00(2011.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 劉軼群 | 申請(專利權)人 | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 代理機構 | 北京集佳知識產權代理有限公司 | 代理人 | 吳敏 |
| 地址 | 201203上海市浦東新區(qū)張江路18號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種納米線器件及其形成方法,所述形成方法包括:提供襯底,所述襯底上具有前驅層;刻蝕所述前驅層,形成溝道納米線,所述溝道納米線的表面均屬于{111}晶面族。通過對所述溝道納米線表面結構的選擇,為后續(xù)高質量高K柵介質層,甚至單晶結構高K柵介質層的形成提供良好的工藝基礎,進而達到提高高K柵介質層介電常數(shù)和致密度,改善所形成全包圍柵極結構的電學性能的目的。 |





