芯片CP測試中探針臺驅(qū)動配置方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110889908.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113608105A 公開（公告）日 2021-11-05
申請公布號 CN113608105A 申請公布日 2021-11-05
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐振 申請（專利權(quán)）人 杭州芯云半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 合肥方舟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 吳偉晨
地址 310000浙江省杭州市濱江區(qū)浦沿街道六和路368號一幢（南）一樓F1066室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供芯片CP測試中探針臺驅(qū)動配置方法，方法包括如下步驟：步驟S1，先通過測試機(jī)監(jiān)測模塊掃描被測芯片的批號，再通過分批處理模塊根據(jù)芯片批號的不同進(jìn)行分批處理；步驟S2，通過測試機(jī)的測試模塊從服務(wù)器獲取被測芯片的測試信息；步驟S3，檢測芯片批號為奇數(shù)時，通過分批處理模塊中的優(yōu)先檢測單元進(jìn)行優(yōu)先處理，檢測芯片信號為偶數(shù)時，通過分離處理模塊中的檢測等待單元進(jìn)行遲緩處理；步驟S4，通過測試機(jī)驅(qū)動模塊驅(qū)動探針臺對被測芯片進(jìn)行檢測，本發(fā)明通過為解密代碼設(shè)置若干套轉(zhuǎn)換方法，能夠一體化對測試芯片進(jìn)行檢測，能夠根據(jù)測試芯片批號自動下載所需Recip，提高一體化進(jìn)程，提高測試精確性，節(jié)省大量人力，降低檢測成本。