一種芯片老化監(jiān)控方法、裝置及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910810276.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112444718A 公開（公告）日 2021-03-05
申請公布號 CN112444718A 申請公布日 2021-03-05
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李才會;劉勵 申請（專利權）人 上海原動力通信科技有限公司
代理機構 北京路浩知識產權代理有限公司 代理人 馬瑞
地址 201600上海市松江區(qū)漕河涇開發(fā)區(qū)松江高科技園莘磚公路518號6幢101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例提供一種芯片老化監(jiān)控方法、裝置及系統(tǒng)，通過獲取目標芯片在老化過程中的溫度變化曲線，并根據溫度升溫階段所對應的曲線段，得到目標芯片在溫度升溫階段的溫度變化斜率值，根據溫度穩(wěn)態(tài)階段所對應的曲線段，得到目標芯片在溫度穩(wěn)態(tài)階段的溫度值，最后溫度變化斜率值和溫度值，對目標芯片的老化狀態(tài)進行監(jiān)控，實現了對目標芯片在老化過程中溫度升溫階段和溫度穩(wěn)態(tài)階段的老化狀態(tài)的監(jiān)控，從而實現了對存在貼裝或裝配異常的芯片的及時篩選，避免了目標芯片在老化過程中出現溫度異常時，容易出現芯片燒毀的問題。??