低溫電學(xué)測量插拔型樣品托

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201720249559.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN206657033U 公開（公告）日 2017-11-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN206657033U 申請(qǐng)公布日 2017-11-21
分類號(hào) G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 叢君狀;申世鵬;邢健 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 多場低溫科技（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京易正達(dá)專利代理有限公司 代理人 多場低溫科技（北京）有限公司
地址 100190 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路世紀(jì)科貿(mào)大廈d座603
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種低溫電學(xué)測量插拔型樣品托，包括電學(xué)樣品托板，所述電學(xué)樣品托板上設(shè)有樣品安裝區(qū)，所述樣品安裝區(qū)內(nèi)設(shè)有貫穿所述電學(xué)樣品托板的非金屬導(dǎo)熱體，所述電學(xué)樣品托板的底部設(shè)有與所述非金屬導(dǎo)熱體相接觸的導(dǎo)熱托板，所述電學(xué)樣品托板與導(dǎo)熱托板之間通過可插拔結(jié)構(gòu)插拔連接。本實(shí)用新型通過在電學(xué)樣品托板的中心嵌入非金屬導(dǎo)熱體(藍(lán)寶石片)，然后讓樣品和非金屬導(dǎo)熱體接觸，非金屬導(dǎo)熱體和導(dǎo)熱底架接觸，導(dǎo)熱底架與冷源接觸，形成復(fù)合樣品托，可實(shí)現(xiàn)實(shí)際溫度與冷源的溫差極小，極大地節(jié)約了測量時(shí)間以及提高了測量精度。