EMI濾波器芯片插入損耗評估定量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410244170.4 申請日 -
公開（公告）號 CN105281697A 公開（公告）日 2016-01-27
申請公布號 CN105281697A 申請公布日 2016-01-27
分類號 H03H7/01(2006.01)I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請（專利權）人 哈爾濱伽馬光電科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 150028 黑龍江省哈爾濱市松北區(qū)科技創(chuàng)新城科技一街719號401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種EMI濾波器芯片插入損耗評估定量方法。根據電路板介電常數Er，通孔的串聯(lián)接地電感，采用阻抗定量模型，通過網絡分析儀的端口匹配阻抗確定電路板走線阻抗Z，并采用0.5mm板厚，在電路板非走線部分加工接地通孔的方式使寄生電感最小化從而設計出精度與計算機仿真相當，可重復，適合芯片的大規(guī)模生產的評估板。克服了傳統(tǒng)EMI濾波器芯片插入損耗評估方法在幾百兆赫茲以及更高頻率，由于評估電路板本身抗射頻干擾差，寄生電感大，造成的評估結果與EMI濾波器芯片實際插入損耗的差距。