一種具有錯位排列的超結P區(qū)的高壓MOSFET
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201621048771.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN206250204U | 公開(公告)日 | 2017-06-13 |
| 申請公布號 | CN206250204U | 申請公布日 | 2017-06-13 |
| 分類號 | H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 高秀秀;焦世龍;高耿輝;陳利 | 申請(專利權)人 | 廈門吉順芯微電子有限公司 |
| 代理機構 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 361008 福建省廈門市軟件園二期觀日路48號701單元 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型公開了一種具有錯位排列的超結P區(qū)的高壓MOSFET,包括金屬層A、N+襯底、P串區(qū)、P柱區(qū)、第五層外延層、第六層外延層、柵氧化層、金屬層B、多晶硅柵,金屬層A、N+襯底、P串區(qū)、P柱區(qū)、第五層外延層、第六層外延層從下至上依次排列,多晶硅柵位于柵氧化層內(nèi)部,金屬層B引出S極,多晶硅柵引出G極,金屬層A引出D極,第五層外延層內(nèi)設有P埋層,所述P埋層為若干個離子注入?yún)^(qū),所述若干個離子注入?yún)^(qū)呈錯位交叉排列分布。本實用新型的高壓MOSFET耐壓值高,抗電荷偏移影響的能力增強,可靠性提高,其工藝簡單,提高效率和功率器件的良品比例,降低成本。 |





