芯片測試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201620664595.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN205826813U 公開（公告）日 2016-12-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN205826813U 申請(qǐng)公布日 2016-12-21
分類號(hào) G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 萬利劍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 成繹半導(dǎo)體技術(shù)（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 201000 上海市浦東新區(qū)郭守敬路498號(hào)19號(hào)樓205A室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種芯片測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于測試芯片的S參數(shù)，該系統(tǒng)包括射頻信號(hào)產(chǎn)生模塊、RF功率檢波模塊、直流電壓讀取模塊，所述射頻信號(hào)產(chǎn)生模塊用于產(chǎn)生芯片測試用的射頻信號(hào)，所述?RF功率檢波模塊用于將芯片產(chǎn)生的RF信號(hào)轉(zhuǎn)換為直流電壓，所述直流電壓讀取模塊用于讀取RF功率檢波模塊產(chǎn)生的直流電壓，并將直流電壓換算為S參數(shù)。本實(shí)用新型能夠?qū)崿F(xiàn)低成本的芯片測試。