實現低溫鍍膜的熱蒸發(fā)設備及低熔點的薄膜材料
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202010236693.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN111424238A | 公開(公告)日 | 2020-07-17 |
| 申請公布號 | CN111424238A | 申請公布日 | 2020-07-17 |
| 分類號 | C23C14/24;C23C14/14;C23C14/50;C23C14/56;C23C14/54 | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 張妮偉;張凡;王庶民;李嘉;張焱超;蘆鵬飛 | 申請(專利權)人 | 超晶科技(北京)有限公司 |
| 代理機構 | 北京萬思博知識產權代理有限公司 | 代理人 | 超晶科技(北京)有限公司 |
| 地址 | 100083 北京市海淀區(qū)王莊路1號B座八(七)層C1 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請公開了一種實現低溫鍍膜的熱蒸發(fā)設備及低熔點的薄膜材料,涉及半導體領域。本申請采用熱蒸發(fā)方式鍍膜,提供低溫生長環(huán)境的設備,包括生長腔室、載片腔室和源爐腔室,且每個腔室相互獨立保證每次鍍膜時生長腔室內真空環(huán)境的穩(wěn)定性。載片腔室中載片裝置外接馬達,實現載片裝置上下移動和旋轉,同時在待鍍基片裝置周圍安置制冷裝置,通過氣體制冷或冷卻液制冷方式對鍍膜襯底維持一個穩(wěn)定且較低的溫度。故本申請針對具有較低熔點的鍍膜材料,有效降低熱蒸發(fā)鍍膜過程中因襯底溫度原因導致的側向生長,間接提高薄膜致密性和均勻性,具有整個生長鍍膜工藝簡單和制備成本低廉的優(yōu)點。 |





