一種銦鎵砷紅外探測器材料制備方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201710508453.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN107910402B | 公開(公告)日 | 2020-07-17 |
| 申請公布號 | CN107910402B | 申請公布日 | 2020-07-17 |
| 分類號 | H01L31/109;H01L31/18 | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 王庶民;潘文武 | 申請(專利權(quán))人 | 超晶科技(北京)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京方安思達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 超晶科技(北京)有限公司 |
| 地址 | 100083 北京市海淀區(qū)學院路30號方興大廈906室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種銦鎵砷紅外探測器件材料的制備方法,包括:1)在磷化銦供體襯底上外延生長緩沖層;2)在緩沖層上形成銦鋁砷犧牲層,在犧牲層上形成InP外延薄層;3)在外延薄層上形成InAlAs犧牲層與InP外延薄層;4)重復步驟3)至得到N個InAlAs犧牲層與InP外延薄層;5)從外延薄層側(cè)進行離子注入,在最上一層的犧牲層內(nèi)形成缺陷層,后將最上一層的外延薄層與硅受體襯底鍵合,并進行退火處理,使頂層薄膜剝離,對剝離部分表面的InAlAs犧牲層進行表面處理;重復本步驟得到N個Si基InP柔性襯底和含犧牲層的InP供體襯底;6)在柔性襯底上進行InGaAs探測器結(jié)構(gòu)外延生長。本發(fā)明為襯底可重復利用、柔性襯底可大規(guī)模集成、省去減薄工藝的銦鎵砷紅外探測器件制備方法。 |





