一種自動評價Demura效果的方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210168590.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114417246A 公開（公告）日 2022-04-29
申請公布號 CN114417246A 申請公布日 2022-04-29
分類號 G06F17/15（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 秦良;張嬌;吳樟福 申請（專利權(quán)）人 昇顯微電子（蘇州）有限公司
代理機構(gòu) 蘇州久元知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 袁欣琪
地址 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)竹園路209號4號樓1905室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種自動評價Demura效果的方法和裝置，可以準確的獲取不同灰階下顯示屏經(jīng)過Demura處理后每個像素的亮度信息，并依據(jù)此亮度信息精確的發(fā)現(xiàn)亮度不均勻點所在位置以及亮度不均勻點分布的密集度，從而實現(xiàn)自動客觀的評價Demura的效果，使得Demura效果的等級劃分具有數(shù)據(jù)依據(jù)，更加規(guī)范，其主要包含以下幾個部分：獲得去噪后的亮度數(shù)據(jù)、計算平均亮度和亮度差異系數(shù)、識別亮度不均勻點、計算亮度不均勻點的數(shù)量以及分布的疏密程度、進行該灰階Demura等級判定、進行整體Demura等級判定。