一種氮化鎵基LED外延片及其生長(zhǎng)方法
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201010128437.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN102194939B | 公開(公告)日 | 2016-11-30 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN102194939B | 申請(qǐng)公布日 | 2016-11-30 |
| 分類號(hào) | H01L33/06(2010.01)I;H01L33/32(2010.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 王東盛;劉俊;關(guān)秋云;周德保;肖志國(guó) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 大連美明外延片科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 116025 遼寧省大連市高新園區(qū)高能街1號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種氮化鎵基LED外延片及其生長(zhǎng)方法,其結(jié)構(gòu)從下至上依次為襯底、氮化鎵基緩沖層、非摻雜氮化鎵層、n型氮化鎵層、多量子阱層、p型鋁鎵氮層、p型氮化鎵層和接觸層,其特征在于所述接觸層為n型InxGa1?xN層,或者為p型InxGa1?xN層,其中x為摩爾系數(shù),0<x<1。通過(guò)在接觸層中加入In組分和濃度漸變的摻雜層來(lái)獲得調(diào)制摻雜接觸層外延結(jié)構(gòu),緩解靜電對(duì)氮化鎵基LED的沖擊,提高LED對(duì)靜電的耐受能力。按照標(biāo)準(zhǔn)芯片工藝制作成300×300μm2的芯片,其反向4000V的ESD良品率為90%以上。 |





