一種可靠性提高的E2PROM集成電路
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN98214245.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN2341279Y | 公開(公告)日 | 1999-09-29 |
| 申請公布號 | CN2341279Y | 申請公布日 | 1999-09-29 |
| 分類號 | H01L27/112 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 張征 | 申請(專利權(quán))人 | 上海貝嶺微電子制造有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人 | 張政權(quán) |
| 地址 | 200233上海市宜山路810號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種E2PROM集成電路,它包括半導(dǎo)體襯底、位于襯底上的E2PROM存儲單元陣列、覆蓋在所述存儲單元陣列上的介質(zhì)層,其中所述E2PROM集成電路還包括覆蓋需要保護的E2PROM存儲單元陣列至少一部分以屏蔽外來電場干擾的附加金屬膜,所述金屬膜位于介質(zhì)層上并與襯底在電氣上相連。所述附加金屬膜的形狀可以是片狀、網(wǎng)狀或絲狀。所述附加金屬膜是在所述介質(zhì)層上形成上層金屬互連的同時形成的。 |





