一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201921073663.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN210272269U 公開（公告）日 2020-04-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN210272269U 申請(qǐng)公布日 2020-04-07
分類號(hào) H01L21/67;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 艾兵 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海贏朔電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京律遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 上海贏朔電子科技股份有限公司
地址 201712 上海市青浦區(qū)久遠(yuǎn)路389號(hào)2幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備，包括設(shè)備柜，所述設(shè)備柜頂端設(shè)置有轉(zhuǎn)盤站，且設(shè)備柜頂端依次設(shè)置有沿轉(zhuǎn)盤站外圓周分布的振動(dòng)盤入料站、轉(zhuǎn)向站、測(cè)試站、鐳射站、不良品排出站、封裝卷盤式收料機(jī)構(gòu)和tray盤式收料機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近轉(zhuǎn)盤站與鐳射站之間位置處設(shè)有鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤，所述設(shè)備柜頂端靠近轉(zhuǎn)向站和振動(dòng)盤之間位置處設(shè)有用于檢測(cè)芯片方向的影像檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近測(cè)試站和鐳射站之間位置處設(shè)有第一打標(biāo)檢測(cè)機(jī)構(gòu)。本實(shí)用新型自動(dòng)化程度高，節(jié)省人力，提高工作效率，操作簡(jiǎn)便，減少操作工序，提高了生產(chǎn)效率，出料方式多樣，滿足不同生產(chǎn)需要。