用于電路板測(cè)試的轉(zhuǎn)接板及測(cè)試方法、測(cè)試裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201310445487.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN104515874B | 公開(公告)日 | 2017-07-04 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN104515874B | 申請(qǐng)公布日 | 2017-07-04 |
| 分類號(hào) | G01R1/04 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 陳剛;耿魯宗;李永宏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 杭州方正速能科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 北大方正集團(tuán)有限公司;杭州方正速能科技有限公司 |
| 地址 | 100871 北京市海淀區(qū)成府路298號(hào)中關(guān)村方正大廈808室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種用于電路板測(cè)試的轉(zhuǎn)接板及測(cè)試方法、測(cè)試裝置。該轉(zhuǎn)接板包括板體,對(duì)應(yīng)于電路板上的多個(gè)待測(cè)焊盤,在板體上設(shè)置多個(gè)測(cè)試結(jié)構(gòu)。其中,每個(gè)測(cè)試結(jié)構(gòu)包括電性連接的第一焊盤和第二焊盤。通過設(shè)置第一焊盤用于與對(duì)應(yīng)的待測(cè)焊盤形成電性連接,第二焊盤之間的距離大于預(yù)定門限,從而可以使用普通的測(cè)試探針與轉(zhuǎn)接板上的第二焊盤接觸導(dǎo)通來(lái)完成對(duì)電路板的測(cè)試,降低了測(cè)試成本。 |





