一種閃存器的擦除驗(yàn)證設(shè)備和方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810967997.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN109273039A 公開(kāi)（公告）日 2019-01-25
申請(qǐng)公布號(hào) CN109273039A 申請(qǐng)公布日 2019-01-25
分類號(hào) G11C16/34;G11C16/14 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 梁軻;侯春源 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 長(zhǎng)存創(chuàng)芯（上海）集成電路有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司
地址 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)東湖開(kāi)發(fā)區(qū)關(guān)東科技工業(yè)園華光大道18號(hào)7018室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種閃存器的擦除驗(yàn)證設(shè)備和方法，其中，所述閃存器的擦除驗(yàn)證設(shè)備包括：控制器，處理器和接口，其中：所述控制器，用于通過(guò)所述接口獲取擦除脈沖；所述處理器，用于基于所述擦除脈沖對(duì)存儲(chǔ)陣列的頂部選擇柵陣列的第i個(gè)存儲(chǔ)串進(jìn)行第一擦除驗(yàn)證；所述處理器，還用于若頂部選擇柵陣列的第i個(gè)存儲(chǔ)串的第一擦除驗(yàn)證失敗，對(duì)所述頂部選擇柵陣列的第i個(gè)存儲(chǔ)串進(jìn)行第二擦除驗(yàn)證；其中，所述第二擦除驗(yàn)證的電壓大于所述第一擦除驗(yàn)證的電壓。