一種快速檢測子癇前期的免疫層析檢測卡及其制備方法與應(yīng)用

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111026167.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113702632A 公開（公告）日 2021-11-26
申請公布號 CN113702632A 申請公布日 2021-11-26
分類號 G01N33/558（2006.01）I;G01N33/548（2006.01）I;G01N33/577（2006.01）I;G01N33/58（2006.01）I;G01N33/68（2006.01）I;G01N33/573（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何皓;翟文康 申請（專利權(quán)）人 深圳市光與生物科技有限公司
代理機構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 肖宇揚
地址 518000廣東省深圳市光明區(qū)光明街道東周社區(qū)高新路研祥科技工業(yè)園二棟研發(fā)大樓1901
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種快速檢測子癇前期的免疫層析檢測卡及其制備方法與應(yīng)用，該檢測卡包括試紙條，試紙條包括樣品墊、結(jié)合墊和反應(yīng)膜，反應(yīng)膜上設(shè)有第一檢測線、第二檢測線和質(zhì)控線，第一檢測線上包被有抗FKBPL第一單克隆抗體，第二檢測線上包被有抗CD44第一單克隆抗體或第一檢測線上包被有抗CD44第一單克隆抗體、第二檢測線上包被有抗FKBPL第一單克隆抗體，質(zhì)控線上包被有第一陰性對照抗體；結(jié)合墊上包被有上轉(zhuǎn)換發(fā)光納米顆粒?抗CD44第二單克隆抗體、上轉(zhuǎn)換發(fā)光納米顆粒?抗FKBPL第二單克隆抗體、上轉(zhuǎn)換發(fā)光納米顆粒?第二陰性對照抗體。本發(fā)明的檢測卡能夠用同時定量檢測CD44和FKBPL濃度，檢測靈敏度高、穩(wěn)定性好，獲得的CD44與FKBPL的濃度比值對子癇前期的診斷具有重要意義。