具有背景失配校準的噪聲整形SARADC
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202111457615.3 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114124100A | 公開(公告)日 | 2022-03-01 |
| 申請公布號 | CN114124100A | 申請公布日 | 2022-03-01 |
| 分類號 | H03M3/00(2006.01)I | 分類 | 基本電子電路; |
| 發(fā)明人 | 張翼;高昊;劉依樺;劉雅琴;莊宇航;姚佳飛;張瑛;蔡志匡;肖建;郭宇鋒 | 申請(專利權)人 | 南京郵電大學南通研究院有限公司 |
| 代理機構 | 南京正聯(lián)知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 王素琴 |
| 地址 | 226000江蘇省南通市港閘區(qū)新康路33號云院9、10幢 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種具有背景失配校準的噪聲整形SAR ADC,屬于集成電路技術領域。本發(fā)明所采用的SAR ADC架構類似于通用SAR ADC,結構包括采樣和保持(S/H)模塊、二進制加權電容式DAC(CDAC)、SAR邏輯塊、比較器和數(shù)字加法器;所呈現(xiàn)的拓撲與通用SAR ADC的不同之處在于,它嵌入了兩個附加模塊:噪聲整形和DAC校準模塊。偶爾激活的校準模塊能夠通過使用一組子DAC的機制執(zhí)行DAC失配校準;在典型的SAR轉(zhuǎn)換中通常被丟棄的殘差信息Vresidue則被NS塊重新使用,從而可以改變帶內(nèi)比較器噪聲和量化噪聲。本發(fā)明將NS?SAR與新的背景校準相結合,同時結合了ΣΔ和SAR架構的優(yōu)點,實現(xiàn)了高精度低功耗架構,并且克服了比較器噪聲和DAC失配誤差對電路的限制。 |





