一種MOX芯塊均勻性檢的檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911343031.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113030126A 公開（公告）日 2021-06-25
申請公布號 CN113030126A 申請公布日 2021-06-25
分類號 G01N23/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 彭傳洋;袁毓文;屠振華;郭亮;李強 申請（專利權(quán)）人 中核四0四有限公司
代理機構(gòu) 核工業(yè)專利中心 代理人 任超
地址 732850 甘肅省蘭州市508信箱1分箱
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 提供一種MOX芯塊均勻性的檢測方法，利用MOX芯塊放在IP板上進行輻照成像，通過圖像和像素亮度值表征MOX芯塊的均勻性,為MOX芯塊的成功制備以及入堆安全運行提供保障。此方法操作便捷，可適用于MOX芯塊的大批量檢測；相較于傳統(tǒng)的照相法，成像更為清晰，并且可以利用圖像的像素亮度來輔助判定MOX芯塊的均勻性，對MOX芯塊的微觀均勻性的表征具有很重要的意義。