一種平面光學元件的面形修正方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110156854.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112817070A | 公開(公告)日 | 2021-05-18 |
| 申請公布號 | CN112817070A | 申請公布日 | 2021-05-18 |
| 分類號 | G02B1/10 | 分類 | 光學; |
| 發(fā)明人 | 朱元強;葉沈航;程章彬;廖以旺 | 申請(專利權(quán))人 | 福建福特科光電股份有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 福州市眾韜專利代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 方金芝 |
| 地址 | 350100 福建省福州市閩侯縣鐵嶺工業(yè)集中區(qū)二期7號路8號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種平面光學元件的面形修正方法,包括如下步驟:在平面光學元件的正面鍍制要求的多層膜,并根據(jù)公式(1)在平面光學元件的背面鍍制修正的單層膜,修正的單層膜厚度=2/3×多層膜厚度×K1×K2公式(1);公式(1)中,K1=鍍制多層膜使用的離子能量/鍍制修正單層膜使用的離子能量,K2=10×(平面光學元件的厚度/平面光學元件最大方向口徑)。在平面光學元件的背面用SiO2單層膜修正平面光學元件的面形,較雙面鍍制相同薄膜的方案容易操作,且SiO2同各種光學元件材料匹配性好,牢固度好。修正后的面形精度高,很容易到達小于λ/10。 |





