一種量子點(diǎn)光穩(wěn)定性的檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011553347.0 申請日 -
公開（公告）號 CN112649409A 公開（公告）日 2021-04-13
申請公布號 CN112649409A 申請公布日 2021-04-13
分類號 G01N21/64 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙治強(qiáng);郭海清;高曉斌;陰德賀 申請（專利權(quán)）人 魏縣聚邦新材料科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 周淑歌
地址 102629 北京市大興區(qū)中關(guān)村科技園區(qū)大興生物醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)基地慶豐西路29號A區(qū)一層1101-3房間
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種量子點(diǎn)光穩(wěn)定性的檢測方法，包括：取待測量子點(diǎn)，對其進(jìn)行光學(xué)性能測試；將待測量子點(diǎn)配置成溶液，然后使其干燥得到量子點(diǎn)薄膜；對得到的量子點(diǎn)薄膜進(jìn)行老化；對老化后的量子點(diǎn)薄膜進(jìn)行光學(xué)性能測試；對測試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)對比，得到待測量子點(diǎn)的光穩(wěn)定性。本發(fā)明直接檢測量子點(diǎn)的光穩(wěn)定性，可以制備器材前對量子點(diǎn)進(jìn)行初步篩選，避免常規(guī)將量子點(diǎn)制備成器材再檢測時(shí)，因選用穩(wěn)定性差的量子點(diǎn)而導(dǎo)致時(shí)間、原料、人力的損失，提高量子點(diǎn)應(yīng)用的效率；同時(shí)可以避免常規(guī)將量子點(diǎn)制備成器材再檢測時(shí)，由于器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、制備工藝中出現(xiàn)的問題造成的量子點(diǎn)穩(wěn)定性的誤判，提供量子點(diǎn)光穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。