一種低真空壓力測試平臺(tái)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020277408.4 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN211626802U 公開(公告)日 2020-10-02
申請(qǐng)公布號(hào) CN211626802U 申請(qǐng)公布日 2020-10-02
分類號(hào) G01L21/00(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 劉飛翔 申請(qǐng)(專利權(quán))人 湖南博云新材料股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孫曉紅
地址 414000湖南省長沙市岳麓區(qū)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)麓松路500號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種低真空壓力測試平臺(tái),包括真空測量腔體、設(shè)于所述真空測量腔體的真空壓力表和連接于所述真空測量腔體的測量管道,所述測量管道設(shè)有用以連接待檢測真空動(dòng)力源的第一連接口,還包括連通所述真空測量腔體、用以向所述真空測量腔體輸送氣體的氣體流量檢測裝置。本實(shí)用新型所提供的低真空壓力測試平臺(tái)能夠提高真空動(dòng)力源性能檢測的效率和便利性,同時(shí)不影響生產(chǎn)設(shè)備的正常運(yùn)行。??