一種用于測(cè)量光學(xué)導(dǎo)引頭處理延時(shí)時(shí)間的方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110363569.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN113188372A | 公開（公告）日 | 2021-07-30 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113188372A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-30 |
| 分類號(hào) | F41G3/32;G01M11/00 | 分類 | 武器; |
| 發(fā)明人 | 王曲直;廖茂益;羅維彪;李平安 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 綿陽慧視光電技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 成都環(huán)泰專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 李斌;李輝 |
| 地址 | 621000 四川省綿陽市綿陽科創(chuàng)區(qū)創(chuàng)新中心2號(hào)樓314室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種用于測(cè)量光學(xué)導(dǎo)引頭處理延時(shí)時(shí)間的方法，包括以下步驟：S1、啟動(dòng)光學(xué)導(dǎo)引頭，并對(duì)光學(xué)導(dǎo)引頭根據(jù)預(yù)設(shè)角度進(jìn)行調(diào)整；S2、對(duì)測(cè)試系統(tǒng)上電，得到測(cè)試系統(tǒng)的初始相位差φ0；S3、通過測(cè)試控制器控制靶標(biāo)停止運(yùn)動(dòng)，保持測(cè)試系統(tǒng)處于上電狀態(tài)，得到處理延時(shí)的時(shí)間tde l ay。本發(fā)明還提供了一種用于測(cè)量光學(xué)導(dǎo)引頭處理延時(shí)時(shí)間的裝置，裝置包括靶標(biāo)、光學(xué)導(dǎo)引頭、測(cè)試控制器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)、步進(jìn)電機(jī)和PC端分析裝置。 |
