一種IC時(shí)序驗(yàn)證方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110583310.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113311314A 公開（公告）日 2021-08-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN113311314A 申請(qǐng)公布日 2021-08-27
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 何賢賺;付超;周楊凡;王海寧;李婷;劉曉露 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州萬高科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 侯珊
地址 310053浙江省杭州市濱江區(qū)六和路368號(hào)一幢（北）四樓A4038室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種IC時(shí)序驗(yàn)證方法及裝置，用戶可以根據(jù)待測(cè)IC的不同類型及用戶需求向處理裝置發(fā)送不同的波形生成指令，使處理裝置生成與波形生成指令對(duì)應(yīng)的測(cè)試時(shí)序波形，然后判斷待測(cè)IC基于測(cè)試時(shí)序波形生成的待測(cè)時(shí)序波形與期望時(shí)序波形是否相同，以判斷待測(cè)IC是否滿足用戶的設(shè)計(jì)需求。由于處理裝置生成測(cè)試時(shí)序波形時(shí)不受電路結(jié)構(gòu)的限制，可以生成任意類型的測(cè)試時(shí)序波形，以滿足不同的檢驗(yàn)需求，在研發(fā)設(shè)計(jì)師研發(fā)出新的待測(cè)IC時(shí)，可以直接生成與待測(cè)IC對(duì)應(yīng)的測(cè)試時(shí)序波形以對(duì)待測(cè)IC進(jìn)行測(cè)試，不需要開發(fā)一個(gè)配套的與待測(cè)IC對(duì)應(yīng)的檢測(cè)裝置，提高了對(duì)待測(cè)IC進(jìn)行驗(yàn)證的效率。