定位芯片運行錯誤的方法及裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201910677822.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN110377472B | 公開(公告)日 | 2021-05-18 |
| 申請公布號 | CN110377472B | 申請公布日 | 2021-05-18 |
| 分類號 | G06F11/22;G06N3/063 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 張韻東;余洋;徐祥 | 申請(專利權(quán))人 | 北京中星微電子有限公司 |
| 代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 401120 重慶市北碚區(qū)云漢大道117號附338號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種定位芯片運行錯誤的方法及裝置,其中,定位芯片運行錯誤的方法包括:在開發(fā)板生成神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型;通過開發(fā)板上的芯片運行的第一程序加載神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,得到第一測試模型,在第一程序運行第一測試模型對輸入數(shù)據(jù)進行預(yù)測時,生成第一運行日志,通過利用開發(fā)板的環(huán)境運行的第二程序加載神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,得到第二測試模型,并且在第二程序運行第二測試模型對輸入數(shù)據(jù)進行預(yù)測時,生成第二運行日志;以及根據(jù)第一運行日志和第二運行日志,定位芯片運行的第一測試模型的錯誤,能夠高效率、高精度、自動化的定位芯片運行錯誤的原因,大大減小開發(fā)周期。 |





