一種基于亞穩(wěn)態(tài)檢測的pipeline-SAR ADC數(shù)字級間增益校準(zhǔn)方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110057929.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112910462A 公開（公告）日 2021-06-04
申請公布號 CN112910462A 申請公布日 2021-06-04
分類號 H03M1/10 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 鄒勇賢 申請（專利權(quán)）人 邁科微電子（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州幫專高智知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 陸茵
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園北區(qū)清華信息港綜合樓4層403-4室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于亞穩(wěn)態(tài)檢測的pipeline?SAR ADC數(shù)字級間增益校準(zhǔn)方法，所述校準(zhǔn)方法包括：對模擬電路的逐級比較劃分為N級，對第2～N級中的比較器依次作亞穩(wěn)態(tài)檢測，并將每級亞穩(wěn)態(tài)指針輸出到數(shù)字電路中；當(dāng)數(shù)字校準(zhǔn)電路接收到的指針為1時，累加當(dāng)前數(shù)據(jù)，直到累加的數(shù)據(jù)個數(shù)達(dá)到上限時，則完成該級校準(zhǔn)，將數(shù)據(jù)累加的和求平均后作為該級與前一級間的級間增益；重復(fù)上述步驟，得到每一級的級間增益，對每一級的級間增益進(jìn)行處理得到數(shù)字校準(zhǔn)電路的校準(zhǔn)結(jié)果。本發(fā)明可以大大改善普通傳統(tǒng)型SAR?ADC因電容失配引入的誤差；同時面積也比校正型的pipelineADC的面積更小，極大地提高了比較精度。