一種基于濾布缺陷破損檢測(cè)方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710440961.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN107274394A 公開(kāi)（公告）日 2017-10-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN107274394A 申請(qǐng)公布日 2017-10-20
分類號(hào) G06T7/00;G06T7/45 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 崔旭明;李云海;余宇航;吳智峰;吳昊;吳麗萍;關(guān)雪好;余細(xì)雄;蔣仲?gòu)?qiáng) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣州啟煌科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 徐朝榮;馬簪
地址 510000 廣東省廣州市番禺區(qū)南村鎮(zhèn)員崗村新市大街16號(hào)101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于濾布缺陷破損檢測(cè)方法，包括以下步驟：圖像紋理提取步驟：對(duì)濾布的圖像紋理特征進(jìn)行提取，并形成數(shù)據(jù)庫(kù)；分析判斷步驟：采用SVM二分類器檢測(cè)模型法對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)的圖像紋理特征進(jìn)行分析，并判濾布中的斷圖像紋理特征區(qū)是否為缺陷破損區(qū)。本發(fā)明還公開(kāi)了一種電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。本發(fā)明解決解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)濾布破損缺陷進(jìn)行檢測(cè)，存在濾布破損缺陷檢測(cè)辨識(shí)能力低的問(wèn)題。