一種試劑架設(shè)備
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201921323347.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN211837994U | 公開（公告）日 | 2020-11-03 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN211837994U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-11-03 |
| 分類號(hào) | B01L9/00(2006.01)I | 分類 | 一般的物理或化學(xué)的方法或裝置; |
| 發(fā)明人 | 管祖光;張莉;苑學(xué)成;賈寶鎖;趙文陽;段夢琪;姜會(huì)麗 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 泛測（北京）環(huán)境科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京維正專利代理有限公司 | 代理人 | 泛測（北京）環(huán)境科技有限公司 |
| 地址 | 100085北京市海淀區(qū)上地信息路12號(hào)1層C區(qū)C101 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型提供一種試劑架設(shè)備，包括試劑架(1)以及與試劑架(1)連接的轉(zhuǎn)軸(2)，試劑架(1)包括上面板(110)和下面板(120)，上面板(110)設(shè)置有多個(gè)用于容納試劑瓶的試劑瓶孔(111)，其中試劑瓶孔(111)均勻分布于以試劑架(1)的中心為圓心的多個(gè)同心圓上；試劑架(1)的下面板(120)設(shè)置有多個(gè)第一凸起(121)，多個(gè)第一凸起(121)均勻分布于以試劑架(1)的中心為圓心的第一圓形軌跡上，下面板(120)的下方還設(shè)置有用于檢測第一凸起(121)的第一光電傳感器(3)。?? |
