真空鍵合裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201821190146.7 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN208460718U | 公開(公告)日 | 2019-02-01 |
| 申請公布號 | CN208460718U | 申請公布日 | 2019-02-01 |
| 分類號 | H01L21/67 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 宋晨光;王建平;方家恩;吳國慶;朱維南;張旭東;劉澤偉;蔣凡 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州銳杰微科技集團(tuán)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 江蘇隆億德律師事務(wù)所 | 代理人 | 成都銳杰微科技有限公司;南通大學(xué) |
| 地址 | 610200 四川省成都市雙流區(qū)西南航空港經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)工業(yè)集中發(fā)展區(qū)華府大道四段777號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型提供真空鍵合裝置,包括真空腔室、滑動設(shè)置于真空腔室內(nèi)的鍵合壓盤及固定設(shè)置于真空腔室內(nèi)并位于鍵合壓盤滑動線程內(nèi)的鍵合托盤;真空腔室至少包括位于鍵合壓盤一側(cè)第一腔室、位于鍵合壓盤另一側(cè)的第二腔室;真空腔室還配置有用于調(diào)節(jié)第一腔室與第二腔室相對氣壓的泵體。本實用新型提供真空鍵合裝置,通過調(diào)節(jié)第一腔室和第二腔室的壓強(qiáng)差,施加鍵合壓力于待鍵合芯片,具有精確可控的特點(diǎn),實現(xiàn)各種微電子器件的圓片級或芯片級真空封裝。 |





