LED多芯測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202230091293.4 申請日 -
公開（公告）號 CN307429114S 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN307429114S 申請公布日 2022-07-01
分類號 10-05 （13） 分類 -
發(fā)明人 吳浩 申請（專利權(quán)）人 深圳市西渥智控科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市恒和大知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣坑社區(qū)龍城工業(yè)園留學(xué)人員（龍崗）創(chuàng)業(yè)園332、333室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：LED多芯測試設(shè)備。2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：用作LED多芯測試設(shè)備，用來測試LED晶圓上多顆晶粒的各項參數(shù)，包括電參數(shù)、光參數(shù)、ESD參數(shù)等。3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于形狀。4.最能表明設(shè)計要點的圖片或照片：立體圖1。