一種自動化測試方法及裝置、計算機可讀存儲介質(zhì)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201711251367.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN108038054B | 公開(公告)日 | 2021-08-03 |
| 申請公布號 | CN108038054B | 申請公布日 | 2021-08-03 |
| 分類號 | G06F11/36(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 劉立黎;尚微;王小文 | 申請(專利權(quán))人 | 大唐微電子技術(shù)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 韓輝峰;李丹 |
| 地址 | 100094北京市海淀區(qū)永嘉北路6號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請公開了一種自動化測試方法,包括如下步驟:根據(jù)測試需求,創(chuàng)建N套測試參數(shù)組和M個測試用例集,所述測試參數(shù)組包括至少一個測試參數(shù),所述測試用例集包括至少一個測試用例,并將所述N套測試參數(shù)組和M個測試用例集進行綁定,其中,N、M均為大于1的自然數(shù);利用測試用例集對應(yīng)的測試參數(shù)組對測試用例集內(nèi)的測試用例進行測試,并保存所述測試用例的一個或一個以上的測試結(jié)果。本申請還公開了一種自動化測試裝置及計算機可讀存儲介質(zhì),通過實施上述方案,使得自動化測試工具每次自動執(zhí)行測試用例時能使用多套測試參數(shù),進而提高了測試工作的效率。 |





