高溫老化測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610137595.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN105807157A 公開（公告）日 2016-07-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN105807157A 申請(qǐng)公布日 2016-07-27
分類號(hào) G01R31/00(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 歐永明;吳大畏;李曉強(qiáng) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 綿存（浙江）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 深圳市硅格半導(dǎo)體股份有限公司;深圳市硅格半導(dǎo)體有限公司
地址 314200 浙江省嘉興市平湖市曹橋街道勤安路198號(hào)研發(fā)大樓1201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種高溫老化測(cè)試系統(tǒng)，所述高溫老化測(cè)試系統(tǒng)包括存儲(chǔ)設(shè)備、高溫箱，還包括供電板、控制電路；所述存儲(chǔ)設(shè)備，用于存儲(chǔ)寫入的老化測(cè)試程序，以及在上電后自動(dòng)執(zhí)行所述老化測(cè)試程序；所述供電板，用于對(duì)連接其上的所述存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行供電；所述高溫箱，用于對(duì)放置在其內(nèi)部且連接在所述供電板上的所述存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行加熱，以提供高溫環(huán)境；所述控制電路，用于控制對(duì)所述供電板的供電。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了在高溫老化測(cè)試中降低對(duì)資源的占用。