一種半導(dǎo)體ATE芯片測(cè)試機(jī)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201821781306.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN209417223U 公開(kāi)（公告）日 2019-09-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN209417223U 申請(qǐng)公布日 2019-09-20
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 田雄偉; 魯斌; 谷陳鵬; 周文君 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 嘉興鵬武電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 嘉興啟帆專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 程開(kāi)生
地址 200120 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)張東路1158號(hào)2幢4層（名義樓層5層）513室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種半導(dǎo)體ATE芯片測(cè)試機(jī)，包括PC計(jì)算機(jī)和PXI機(jī)箱，PC計(jì)算機(jī)包含有若干PCle板卡、PCle×8電纜連接器，PCle板卡的輸出端連接有PCle×8電纜連接器，PCle×8電纜連接器的輸出端連接有若干PXle板卡，PXle板卡位于PXI機(jī)箱的內(nèi)部。本實(shí)用新型中通過(guò)PXI機(jī)箱和各種板卡的組合，P1可以很容易地提供先進(jìn)的數(shù)字、模擬或RF測(cè)試能力，基于PXI的開(kāi)放體系結(jié)構(gòu)，P1提供了靈活和可擴(kuò)展的解決方案，可以被配置成PA，LNA，Switch，F(xiàn)ilter的射頻測(cè)試應(yīng)用的測(cè)試需求范圍，是半導(dǎo)體ATE芯片測(cè)試的理想解決方案。