一種芯片測(cè)試板

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021485515.2 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN212845769U 公開(公告)日 2021-03-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN212845769U 申請(qǐng)公布日 2021-03-30
分類號(hào) G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 莊淵勝;蔡江梁;王強(qiáng) 申請(qǐng)(專利權(quán))人 東莞市千穎電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 523000廣東省東莞市高埗鎮(zhèn)江城西路一街4號(hào)118室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種芯片測(cè)試板,包括基板,還包括測(cè)試座、壓緊部件和PCB板,所述測(cè)試座和所述PCB板分別與所述基板連接,所述測(cè)試座開設(shè)有用于放置待測(cè)芯片的放置槽,所述壓緊部件位于所述放置槽上方,所述放置槽內(nèi)設(shè)有頂針孔,所述頂針孔內(nèi)放置有頂針,所述頂針與所述PCB板電性連接,所述PCB板設(shè)有排線座,所述排線座與一檢測(cè)核心板連接,在使用本實(shí)用新型進(jìn)行芯片測(cè)試時(shí),將芯片放入測(cè)試座,通過壓緊部件壓緊,并通過檢測(cè)核心板,對(duì)獲得的檢測(cè)信號(hào)直接進(jìn)行傳輸和處理,高效準(zhǔn)確的完成對(duì)芯片性能的檢測(cè),完成測(cè)試后,松開壓緊部件,將芯片取出,其結(jié)構(gòu)簡單,操作和檢測(cè)方便,避免焊接和拆裝流程,測(cè)試效率高。??