一種芯片測試機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021485519.0 申請日 -
公開（公告）號 CN213122195U 公開（公告）日 2021-05-04
申請公布號 CN213122195U 申請公布日 2021-05-04
分類號 G01R31/28;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 莊淵勝;蔡江梁;王強 申請（專利權）人 東莞市千穎電子有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 523000 廣東省東莞市高埗鎮(zhèn)江城西路一街4號118室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及芯片檢測技術領域，尤其是指一種芯片測試機構，包括輸送帶、上料組件和測試機，所述輸送帶兩側(cè)設置有滑動槽，所述上料組件內(nèi)設置有多個測試板，所述測試機包括測試臺、測試板安裝槽和測試組件，所述測試組件安裝于所述測試臺上，所述測試板安裝槽設置于所述測試臺上部，所述測試板設置有多個芯片安裝孔，所述測試板安裝槽底部設置有多個測試器件，本實用新型在檢測時，將檢測芯片插于測試板內(nèi)，再將帶有測試板放置于上料組件內(nèi)進行上料，通過輸送帶將測試板送入至測試板安裝內(nèi)，之后通過測試組件和測試臺的配合對測試板內(nèi)的芯片進行檢測，本實用新型可自動上料，且一次性可檢測多個芯片，有效的提高了芯片的檢測效率。