一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201920121413.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN209590217U 公開（公告）日 2019-11-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN209590217U 申請(qǐng)公布日 2019-11-05
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I; G01R1/04（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 汪良恩; 黃亮 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 安徽安芯電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海華誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 安徽安芯電子科技股份有限公司
地址 247100 安徽省池州市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)富安電子信息產(chǎn)業(yè)園10號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒，涉及芯片電性測(cè)試領(lǐng)域，包括盒體，所述盒體為透明設(shè)置且不設(shè)置底面，盒體的側(cè)面設(shè)置通孔，盒體頂部設(shè)置氮?dú)膺M(jìn)氣管，所述氮?dú)膺M(jìn)氣管與外部氮?dú)夤襁B接，盒體內(nèi)設(shè)置測(cè)試銅盤。本實(shí)用新型能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)芯片進(jìn)行電性測(cè)試時(shí)易產(chǎn)生打火現(xiàn)象導(dǎo)致芯片燒壞和測(cè)試失敗的問題。