一種射頻開關芯片測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921535674.6 申請日 -
公開（公告）號 CN210112015U 公開（公告）日 2020-02-21
申請公布號 CN210112015U 申請公布日 2020-02-21
分類號 H04B17/15;H04B17/29 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 蔣禮;文亞東;袁俊;張亦鋒;辜詩濤 申請（專利權(quán)）人 上海利揚創(chuàng)芯片測試有限公司
代理機構(gòu) 東莞市華南專利商標事務所有限公司 代理人 上海利揚創(chuàng)芯片測試有限公司
地址 201800 上海市嘉定區(qū)永盛路2229號3幢1層、2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種射頻開關芯片測試系統(tǒng)，其中，矢量信號收發(fā)儀的輸出端連接至第一多路開關的其中一個接線端，第一多路開關的另一個接線端與矢量網(wǎng)絡分析儀的輸出端連接，第一多路開關的公共端與被測射頻開關芯片的公共端連接，被測射頻開關芯片的各個接線端與第二多路開關的各個接線端分別對接；第二多路開關與第三多路開關的公共端相互對接，第三多路開關的第一路接線端連接矢量網(wǎng)絡分析儀的輸入端，第二路接線端經(jīng)衰減器連接至第四多路開關的接線端，第三路接線端與第四多路開關的另一接線端相接，第四多路開關的公共端與矢量信號收發(fā)儀的輸入端相接；控制器與被測射頻開關芯片通訊連接，并分別電連接各個多路開關的受控端和人機交互設備。