一種芯片多工位測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201820636942.2 申請日 -
公開（公告）號 CN208780782U 公開（公告）日 2019-04-23
申請公布號 CN208780782U 申請公布日 2019-04-23
分類號 G01R31/28（2006.01）I; G01R1/04（2006.01）I; G01R1/073（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張術(shù)利 申請（專利權(quán)）人 上海利揚(yáng)創(chuàng)芯片測試有限公司
代理機(jī)構(gòu) 東莞市華南專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 上海利揚(yáng)創(chuàng)芯片測試有限公司
地址 201800 上海市嘉定區(qū)永盛路2229號3幢1層、2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種芯片多工位測試系統(tǒng)，包括依次電連接的主控裝置、測試機(jī)和多工位探針卡，所述多工位探針卡用于放置被測芯片，所述測試機(jī)根據(jù)主控裝置所設(shè)定的程序產(chǎn)生頻率信號傳至多工位探針卡上的被測芯片，使被測芯片處于某個(gè)頻段，還設(shè)有電連接多工位探針卡的信號處理器，其用于處理來自放置在多工位探針卡上的被測芯片的數(shù)據(jù)，信號處理器接收到來自多工位探針卡的被測芯片數(shù)據(jù)后，將數(shù)據(jù)同時(shí)進(jìn)行計(jì)算處理，再將得出的結(jié)果與預(yù)設(shè)的值進(jìn)行比較，使多個(gè)芯片能在不同頻率下同時(shí)進(jìn)行測試，提高了芯片的測試效率。