一種RFID標(biāo)簽測試系統(tǒng)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201921231838.6 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN210835145U | 公開（公告）日 | 2020-06-23 |
| 申請公布號 | CN210835145U | 申請公布日 | 2020-06-23 |
| 分類號 | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 文亞東;熊凱;辜詩濤;袁俊;張亦鋒 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海利揚(yáng)創(chuàng)芯片測試有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 東莞市華南專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 上海利揚(yáng)創(chuàng)芯片測試有限公司 |
| 地址 | 201800上海市嘉定區(qū)永盛路2229號3幢1層、2層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型提供一種RFID標(biāo)簽測試系統(tǒng)，包括測試機(jī)、探針卡、溫度傳感器、射頻閱讀器、加熱設(shè)備和降溫設(shè)備，所述測試機(jī)分別連接探針卡、溫度傳感器和射頻閱讀器，所述探針卡用于放置被測標(biāo)簽的射頻標(biāo)簽芯片，所述溫度傳感器、加熱設(shè)備和降溫設(shè)備都設(shè)在靠近探針卡的邊緣處。在完成了射頻標(biāo)簽芯片的測試和溫度影響數(shù)據(jù)寫入后，被測標(biāo)簽在實(shí)際運(yùn)用時(shí)，其射頻標(biāo)簽芯片向射頻天線輸入射頻電流以使得射頻天線能向外界發(fā)出射頻信號，在射頻天線的發(fā)射功率在受到溫度影響而改變后，射頻標(biāo)簽芯片能根據(jù)其存儲的溫度影響數(shù)據(jù)來調(diào)節(jié)輸入到射頻天線的射頻電流，從而使得射頻天線的發(fā)射功率受到溫度影響的部分得到補(bǔ)償，即射頻天線的發(fā)射功率保持不變。?? |
