RTK傾斜測(cè)量精度檢測(cè)方法和系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811589079.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109696153B 公開（公告）日 2021-09-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN109696153B 申請(qǐng)公布日 2021-09-14
分類號(hào) G01C9/00;G01S19/43 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 陳源軍;厲寬寬;周學(xué)文;李成鋼;李家吉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣州市中海達(dá)測(cè)繪儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 湯金燕
地址 511400 廣東省廣州市番禺區(qū)東環(huán)街番禺大道北555號(hào)天安總部中心13號(hào)樓202房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種RTK傾斜測(cè)量精度檢測(cè)方法和系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)。上述RTK傾斜測(cè)量精度檢測(cè)方法包括：獲取針對(duì)測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)進(jìn)行RTK傾斜測(cè)量所獲得的RTK傾斜測(cè)量數(shù)據(jù)；根據(jù)RTK傾斜測(cè)量數(shù)據(jù)構(gòu)建距離后方交會(huì)平差模型，根據(jù)距離后方交會(huì)平差模型確定設(shè)計(jì)矩陣、先驗(yàn)方差陣和觀測(cè)值?計(jì)算值向量；距離后方交會(huì)平差模型為表征大地坐標(biāo)坐標(biāo)序列殘差數(shù)據(jù)和方差數(shù)據(jù)的模型；根據(jù)先驗(yàn)方差陣和觀測(cè)值?計(jì)算值向量計(jì)算測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)的位置精度，根據(jù)設(shè)計(jì)矩陣計(jì)算幾何精度因子，根據(jù)所述位置精度和幾何精度因子檢測(cè)所述測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)估算坐標(biāo)的精度。本發(fā)明在保證高精度RTK傾斜測(cè)量數(shù)據(jù)提取穩(wěn)定性的基礎(chǔ)上，減小了獲取高精度測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)估算坐標(biāo)的成本。