商標(biāo)進(jìn)度
商標(biāo)申請
2010-05-11
初審公告
2011-06-27
已注冊
2011-09-28
4
終止
2031-09-27
商標(biāo)詳情
| 商標(biāo) |
M
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| 商標(biāo)名稱 | MACROTEST SEMICONDUCTOR | 商標(biāo)狀態(tài) | 商標(biāo)已注冊 |
| 申請日期 | 2010-05-11 | 申請/注冊號 | 8286084 |
| 國際分類 | 09類-科學(xué)儀器 | 是否共有商標(biāo) | 否 |
| 申請人名稱（中文） | 南京宏泰半導(dǎo)體科技股份有限公司 | 申請人名稱（英文） | - |
| 申請人地址（中文） | 江蘇省南京市浦口區(qū)蘭花路19號江蘇可成科技產(chǎn)業(yè)園南園26號樓2層 | 申請人地址（英文） | - |
| 商標(biāo)類型 | 更正商標(biāo)申請/注冊事項---打印改錯后的注冊證 | 商標(biāo)形式 | - |
| 初審公告期號 | 1269 | 初審公告日期 | 2011-06-27 |
| 注冊公告期號 | 8286084 | 注冊公告日期 | 2011-09-28 |
| 優(yōu)先權(quán)日期 | - | 代理/辦理機(jī)構(gòu) | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 |
| 國際注冊日 | - | 后期指定日期 | - |
| 專用權(quán)期限 | 2021-09-28-2031-09-27 | ||
| 商標(biāo)公告 | - | ||
| 商品/服務(wù) |
物理學(xué)設(shè)備和儀器(0910)
教學(xué)儀器(0910)
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| 商標(biāo)流程 |
2010-05-11
商標(biāo)注冊申請---申請收文
2010-05-17
商標(biāo)注冊申請---打印受理通知
2011-03-28
商標(biāo)注冊申請---打印駁回通知
2011-09-02
更正商標(biāo)申請/注冊事項---申請收文
2011-10-17
商標(biāo)注冊申請---打印注冊證
2012-01-10
更正商標(biāo)申請/注冊事項---打印改錯后的注冊證 |
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