一種半導體測試系統(tǒng)的開關(guān)切換電路及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110689258.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113252950A 公開（公告）日 2021-08-13
申請公布號 CN113252950A 申請公布日 2021-08-13
分類號 G01R1/20（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I;H03K19/20（2006.01）I;H01H9/54（2006.01）I;H03K17/687（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 邵凌明;毛國梁 申請（專利權(quán)）人 南京宏泰半導體科技股份有限公司
代理機構(gòu) 南京新眾合專利代理事務所（普通合伙） 代理人 彭雄
地址 210000江蘇省南京市浦口區(qū)江浦街道浦濱大道320號科創(chuàng)廣場科創(chuàng)總部大廈B座24樓B2411室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及了一種半導體測試系統(tǒng)的開關(guān)切換電路及方法，包括源表模塊、控制模塊、開關(guān)模塊，所述源表模塊用于設(shè)置電流檔位與輸出狀態(tài)，所述控制模塊根據(jù)電流檔位與輸出狀態(tài)產(chǎn)生相應電平的使能信號En和控制信號Con；根據(jù)使能信號En和控制信號Con產(chǎn)生相應電平的控制信號一Rc1和控制信號二Rc2；開關(guān)模塊用于根據(jù)控制信號一Rc1、控制信號二Rc2的電平高低，執(zhí)行開關(guān)操作，使得源板卡能夠無任何電壓電流輸出、允許1A以下的電流輸出或者允許1A以上的電流輸出。本發(fā)明不僅規(guī)避了單一類型開關(guān)的缺點，而且提升了系統(tǒng)測試精度、測試穩(wěn)定性與開關(guān)電路的適用壽命，同時降低了使用成本。