一種光學鏡面中心厚度測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023260165.2 申請日 -
公開（公告）號 CN213714219U 公開（公告）日 2021-07-16
申請公布號 CN213714219U 申請公布日 2021-07-16
分類號 G01B11/06（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張志平 申請（專利權(quán)）人 泰州阿法光電科技有限公司
代理機構(gòu) 北京和信華成知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 李博茜
地址 225300江蘇省泰州市海陵工業(yè)園區(qū)12號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于測量裝置技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種光學鏡面中心厚度測量裝置，包括底座，所述底座的上方一側(cè)位置水平方向設(shè)置有滑軌，所述滑軌的底部固定連接于底座，所述滑軌的內(nèi)部設(shè)置有滑塊，所述滑塊的上方固定連接有固定座，所述固定座的外部一側(cè)水平方向設(shè)置有橫板，本實用新型設(shè)置了激光測厚裝置以及移動結(jié)構(gòu)，利用激光測厚裝置可以在不接觸光學鏡面的情況下對其中心厚度進行測量處理，保證光學鏡面在進行測量的過程中不會出現(xiàn)接觸磨損的現(xiàn)象，且在移動結(jié)構(gòu)的工作下激光測厚裝置可以在水平方向上進行平移運動，方便了根據(jù)測量的光學鏡面的大小不同對測量中心點進行調(diào)整，既提高了測量裝置的工作性能，又優(yōu)化了測量裝置的結(jié)構(gòu)性能。