一種芯片測(cè)試壓塊襯套防呆設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201821022273.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN208507631U 公開（公告）日 2019-02-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN208507631U 申請(qǐng)公布日 2019-02-15
分類號(hào) H01L21/66;G01R1/04 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 王楊;王駿卿 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 昆山芯信安電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 215300 江蘇省蘇州市花橋鎮(zhèn)雙華路388號(hào)4號(hào)房二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種芯片測(cè)試壓塊襯套防呆設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，包括測(cè)試壓板、襯套安裝板和襯套，所述襯套安裝板對(duì)應(yīng)測(cè)試通孔開設(shè)有螺紋通槽，所述襯套的外壁設(shè)置有安裝螺紋，并通過安裝螺紋與螺紋通槽內(nèi)部螺旋安裝，所述襯套的外部通過安裝螺紋與測(cè)試通孔內(nèi)壁接觸設(shè)置，且槽位內(nèi)部通過滑板固定安裝有定位針，所述滑板的端面設(shè)置有調(diào)節(jié)槽位。該芯片測(cè)試壓塊襯套防呆設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，具備便于根據(jù)對(duì)不同芯板定位后測(cè)試，避免芯板被測(cè)試時(shí)損壞，提高測(cè)試壓塊的防呆效果，以及便于對(duì)測(cè)試壓塊上的襯套進(jìn)行更換，降低對(duì)芯片測(cè)試成本的優(yōu)點(diǎn)，解決了現(xiàn)有對(duì)芯片測(cè)試壓塊襯套不易更換，增加對(duì)芯片測(cè)試成本，以及對(duì)芯片測(cè)試時(shí)測(cè)試壓板防呆效果不佳的問題。