一種自屏蔽梯度線圈的設(shè)計(jì)方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910658436.2 申請日 -
公開（公告）號 CN110456293B 公開（公告）日 2021-07-20
申請公布號 CN110456293B 申請公布日 2021-07-20
分類號 G01R33/385;G01R33/421 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李良安;陳琳鑫;安學(xué)亮;陳春霞 申請（專利權(quán)）人 惠仁望都醫(yī)療設(shè)備科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 072450 河北省保定市望都縣經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)自強(qiáng)街1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種自屏蔽梯度線圈的設(shè)計(jì)方法，首先將根據(jù)成像區(qū)域目標(biāo)點(diǎn)磁場值，通過邊界元法和流函數(shù)法求出梯度線圈主線圈最大尺寸及主線圈在成像區(qū)域和屏蔽區(qū)域目標(biāo)點(diǎn)的磁場值，根據(jù)主線圈在成像區(qū)域和屏蔽區(qū)域的磁場值來設(shè)定屏蔽線圈的目標(biāo)點(diǎn)，從而控制屏蔽線圈在成像區(qū)域的磁場值，以實(shí)現(xiàn)對自屏蔽梯度線圈的功耗的控制。本發(fā)明采用上述結(jié)構(gòu)的自屏蔽梯度線圈的設(shè)計(jì)方法，能有效提高自屏蔽梯度線圈的效率，降低自屏蔽梯度線圈的功耗。