一種鈍化層的測(cè)量方法和太陽電池的制備方法
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110609332.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN113345815A | 公開(公告)日 | 2021-09-03 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113345815A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-03 |
| 分類號(hào) | H01L21/66(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 蘇榮;王璞;李忠涌;王嵐;李書森;黃軍;鄧明璋;謝毅;張國志 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 通威太陽能(成都)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 呂露 |
| 地址 | 610400四川省成都市金堂縣淮口鎮(zhèn)金樂路東段1號(hào)(金堂工業(yè)園區(qū)內(nèi)) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種鈍化層的測(cè)量方法和太陽電池的制備方法,屬于太陽電池領(lǐng)域。測(cè)量方法包括:提供具有鈍化層的測(cè)試樣片;確定鈍化層的期望獲得的目標(biāo)參數(shù);根據(jù)鈍化層的簡(jiǎn)化測(cè)試模型,確定測(cè)量所需的第一條件參數(shù);利用第一條件參數(shù),通過橢圓偏光法在橢圓偏振光譜儀上對(duì)測(cè)試樣片中的鈍化層進(jìn)行檢測(cè),以獲得對(duì)應(yīng)于目標(biāo)參數(shù)的第一測(cè)量結(jié)果參數(shù)。該測(cè)量方法簡(jiǎn)單易于實(shí)施,且能夠獲得合理精度的測(cè)量數(shù)據(jù)。 |





