一種精確測試IC基準(zhǔn)電壓的測試系統(tǒng)及測試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201611151518.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106501577A 公開（公告）日 2017-03-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN106501577A 申請(qǐng)公布日 2017-03-15
分類號(hào) G01R19/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王學(xué)軍;王洪祥;楊振;薛路磊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 紹興芯谷科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 紹興市越興專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 紹興芯谷科技有限公司
地址 312000 浙江省紹興市越城區(qū)天光橋2號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種精確測試IC基準(zhǔn)電壓的測試系統(tǒng)及測試方法，測試系統(tǒng)包括IC器件、結(jié)構(gòu)對(duì)稱的信號(hào)處理電路和V/I測試源，信號(hào)處理電路的信號(hào)輸入端與IC器件的基準(zhǔn)電壓測試端子相連，信號(hào)處理電路的信號(hào)輸出端與V/I測試源相連；其測試方法為信號(hào)處理電路分別將輸入電壓Vin和穩(wěn)壓管電壓Vz緩沖放大后進(jìn)行比較，并將比較后的信號(hào)通過減法放大后輸出電壓Vout給V/I測試源。本發(fā)明可消除測試設(shè)備地線及空間噪聲的共模干擾，降低測試系統(tǒng)因測試誤差造成的影響，獲得更高精度的測試結(jié)果。